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Rasterelektronen-Mikroskopie in der Materialprüfung

Profil

Die Arbeitsgruppe (AG) „Fraktographie“ ist im DVM-Arbeitskreis „Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung“ angesiedelt und dem gleichnamigen DVM/DGM-Gemeinschaftsausschuss zugeordnet. Die Leitung der Arbeitsgruppe liegt in den Händen der BAM Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung. Die AG möchte allen, die in ihrer täglichen Arbeit mit Fraktographie und der Bewertung von Bruchflächen zu tun haben, ein Forum zum Austausch und zur Weiterbildung bieten. Ziel der AG Fraktographie ist die Erstellung einer Datenbank für Bruchflächen als Referenz für die Bruchflächenbewertung.

Dafür werden Fallbeispiele aus Schadensuntersuchungen und Forschungsvorhaben gesammelt.

Aufgaben und Ziele

  • Identifizierung von Lücken und Defiziten bei der Interpretation von Bruchflächen
  • Planung und Durchführung von Vergleichsversuchen in der Grundlagenforschung
  • Durchführung von Ringversuchen
  • Fortbildungen
  • Austausch mit anderen Arbeitsgruppen und Arbeitskreisen

Neben der AG „Fraktographie“ gibt es im Gemeinschaftgremium noch die bei der DGM angesiedelten AGs „Mikrostrukturcharakterisierung am Rasterelektronenmikroskop“ und „in situ Prüfung“.