Direkt zum Inhalt
‹ Arbeitskreise

Rasterelektronen-Mikroskopie in der Materialprüfung

Profil

Der Arbeitskreis „Rasterelektronenmikroskopie in der Materialprüfung“ ist unterteilt und aktiv in den folgenden Arbeitsgruppen:

  • Arbeitsgemeinschaft Fraktographie (DVM)
  • AG Mikrostrukturcharakterisierung am Rasterelektronenmikroskop (DGM)
  • AG in situ Prüfung (DGM)

Weitere Informationen finden Sie in den jeweiligen AG´s.